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產(chǎn)品展示
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PRODUCT激光粒度儀
噴霧粒度儀
x射線衍射儀
x射線熒光光譜儀
納米粒度電位儀
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納米顆粒跟蹤分析儀
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微量熱儀
顆粒圖像分析儀
多檢測器凝膠色譜系統(tǒng)
其它工業(yè)過程控制
分子相互作用儀
推薦展示
馬爾文帕納科激光粒度儀
馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽(yù)的 Mastersizer 3000硬件平臺上，進(jìn)一步優(yōu)化性能，增加了多項(xiàng)智能輔助功能，讓設(shè)備更易用，結(jié)果的確信度更高。
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機(jī)
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機(jī)Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內(nèi)置計(jì)算機(jī)、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術(shù)的新成果，是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，在結(jié)合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，增加了多角度動態(tài)...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強(qiáng)大、用途廣泛的常規(guī)實(shí)驗(yàn)室測量解決方案，可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比，其粒度測量速度超過...
公司簡介
使用我們的技術(shù)可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱、Zeta電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu)，元素及物相等參數(shù)。這些信息對于預(yù)測產(chǎn)品在使用過程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能，從而實(shí)現(xiàn)高效制造至關(guān)重要。作為思百吉集團(tuán)成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個(gè)辦事處，總部位于上海，其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度，形貌，X射線等設(shè)備的專業(yè)實(shí)驗(yàn)室，完善的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓(xùn)的配套服務(wù)與優(yōu)良的技術(shù)...
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News
本文摘要電池材料中大的團(tuán)聚體和污染物會帶來嚴(yán)重風(fēng)險(xiǎn)，所以對這些超大顆粒的檢測具有非常重要的意義，但由于這樣的顆粒在電極材料中的含量很少，檢測很具挑戰(zhàn)性。本文探索了Mastersizer3000+激光粒度儀結(jié)合自適應(yīng)激光衍射（SizeSure）和動態(tài)成像（HydroInsight）技術(shù)，提高檢測靈敏度，并對單個(gè)顆粒進(jìn)行可視化體現(xiàn)，從而對電極材料有了更深入的了解。引言電池的正負(fù)極材料通常采用粒度范圍較窄的材料制造。然而，在材料加工過程中，可能會引入細(xì)粉、團(tuán)聚體或污染物。雖然細(xì)粉可...
本文摘要多層鍍膜工件加工過程中，前一層表面活性劑的殘留量將對后一層涂鍍效果產(chǎn)生顯著影響，所以要對工件表面殘留的SDS總量和分布進(jìn)行準(zhǔn)確測量。本文通過XRF微區(qū)能譜分析技術(shù)配合無標(biāo)定量軟件，通過對金屬工件表面硫元素分布測定，表征十二烷基硫酸鈉殘留分布情況。XRF無損分析方法方便快捷，同時(shí)可以輸出含量對坐標(biāo)的分布圖。引言十二烷基硫酸鈉（SDS，SodiumDodecylSulfate）在電鍍工藝中主要作為表面活性劑使用，其作用主要包括：潤濕劑：SDS能顯著降低電解液的表面張力，使...
2025年的“云答疑”活動已經(jīng)落下帷幕，年終之際，我們盤點(diǎn)了本年度顆粒表征技術(shù)云答疑的部分典型的共性問題，并配以應(yīng)用專家的回答作為合集放送，本篇包含激光衍射技術(shù)（Mastersizer系列）和動態(tài)光散射技術(shù)（Zetasizer系列），希望可以幫助您優(yōu)化儀器使用和方法開發(fā)工作。Mastersizer系列激光粒度儀相關(guān)FAQ01問樣品團(tuán)聚，粒度結(jié)果與照片不符，如果判斷方法可靠？答激光粒度儀和圖像法測試粒徑的等效原理不同，一個(gè)是體積等效球直徑，一個(gè)是投影面像素分析，測試不規(guī)則顆粒大...
納米顆粒跟蹤分析儀是一種用于實(shí)時(shí)、可視化地檢測和表征液體中納米級顆粒（通常為10–2000nm）的先進(jìn)儀器，廣泛應(yīng)用于納米材料、生物醫(yī)藥、疫苗開發(fā)、外泌體研究、環(huán)境科學(xué)及食品工業(yè)等領(lǐng)域。其核心技術(shù)基于激光照明與高靈敏度攝像技術(shù)相結(jié)合，通過追蹤單個(gè)納米顆粒在布朗運(yùn)動下的軌跡，計(jì)算其擴(kuò)散速度，并依據(jù)斯托克斯-愛因斯坦方程推導(dǎo)出顆粒的流體力學(xué)直徑，從而實(shí)現(xiàn)對粒徑分布、濃度及顆粒運(yùn)動行為的精確分析。納米顆粒跟蹤分析儀的應(yīng)用范圍：一、基礎(chǔ)科學(xué)研究領(lǐng)域納米材料表征金屬/氧化物納米顆粒：分...
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